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C测试仪 3504-60/ 3504-50/ 3504-40
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产品名称:
C测试仪 3504-60/ 3504-50/ 3504-40
产品型号:
HIOKI 3504-60/ 3504-50/ 3504-40
产品展商:
深圳市拓克科技有限公司
简单介绍
• 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等高速测量2ms • 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 • 对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 • 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 • 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 • 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
C测试仪 3504-60/ 3504-50/ 3504-40的详细介绍
不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头
测量参数 | Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ） | 测量范围 | C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000 | 基本确度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数 | 测量频率 | 120Hz, 1kHz | 测量信号电平 | 恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz) | 输出电阻 | 5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外） | 显示 | 发光二级管 （6行表示，满量程计算器根据量程而定） | 测量时间 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 | 机能 | 4端子控制检测功能（仅限3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外） | 电源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA | 体积及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg | 附件 | 电源线×1，预备电源保险丝×1，接地适配器×1 |
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